Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis
- Författare
- (Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy.)
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Springer | ©2018 | New York, New York, NY | xxiii, 550 pages illustrations (some color) 29 cm | 978-1-4939-6674-5 |